《光电子技术及应用（810）》考试大纲

命题方式 招生单位自命题 科目类别 初试

满分 150

考试性质

考试方式和考试时间

试卷结构

考试内容和要求

（一）辐射度学与光度学

辐射度学基本概念与光度学参数。

（二）激光原理与技术

（1）光与物质相互作用理论，激光产生条件与基本结构；

（2）激光器基本原理；

（3）激光技术：脉冲技术、选模技术、锁模技术、稳频技术、倍频技术等。

（4）高斯光束：特性，高斯光束的准直、聚焦与模式匹配，用q参数、ABCD定则分析高斯光束。

（三）光传输理论与技术

（1）平面介质光波导理论（射线分析与波动分析）；

（2）光纤传播理论与基本特性；

（3）光在电光、声光以及磁光晶体中的传播。

（四）光调制技术

（1）光辐射调制方法；

（2）电光调制技术：强度调制(纵向与横向)、位相调制(纵向与横向)、电光偏转技术

（3）声光调制技术：拉曼奈斯衍射、布拉格衍射，声光调制原理，声光调制器衍射效率分析；

（4）磁光调制技术：旋光效应与磁光效应，法拉第效应，磁光调制器与光隔离器。

（五）光电探测技术

（1）光电探测器参数、光电探测方式；

（2）光电探测的物理效应；

（3）常见光电探测器的基本结构与参数。

（六）光电成像与显示技术

（1）光电成像原理，CCD成像技术；

（2）液晶显示技术、等离子体显示技术、LED显示技术、电致与场致发光显示技术

参考书目

《光电子技术基础（第二版）》，朱京平著，科学出版社，2009。